Wird geladen…
FB11 Material- und Geowissenschaften · Angeboten in WiSe 2025/26
Für diesen Kurs wurden noch keine Noten gemeldet.
Notenverteilungen kommen herein, sobald jemand, der den Kurs belegt hat, den Notenspiegel mit installierter TUPlan-Erweiterung öffnet.
Noch keine Bewertungen — mach den Anfang.
Deine Bewertung hängt an einer zufälligen ID in diesem Browser. Kein Konto, nichts, was dich identifiziert.
Keine wöchentlichen Termine hinterlegt.
Basics of scanning electron microscopy; Breakdown of scanning electron microscopes (SEM) Electron and x-ray detectors Analysis of topography with secondary electrons Back scattered electrons for materials contrast Characteristic x-rays for microanalysis Sample preparation for SEM studies Introduction to the SEM Philips XL30-FEG: access to the SEM is granted for the course participants
Kein Prüfungstermin veröffentlicht.
Zum Stundenplan hinzufügenTermine, Räume und Angaben stammen aus TUCaN und können veraltet sein. Falsche Angabe melden